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    首頁(yè)-產(chǎn)品展示-SEM臺式掃描電鏡--賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡

    賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡

    更新時(shí)間:2024-05-23

    產(chǎn)品型號:

    簡(jiǎn)要描述:賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡:賽可公司總部位于韓國水原市,是專(zhuān)業(yè)從事掃描電子顯微鏡和X-RAY檢測設備研發(fā)、生產(chǎn)的公司。自2006年推出臺式電鏡以來(lái),賽可憑借其優(yōu)秀的生產(chǎn)工藝和持續的技術(shù)創(chuàng )新,在國內外擁有眾多的用戶(hù)。

    • 企業(yè)實(shí)力

      Enterprise Strength
    • 有效保修

      Valid Warranty
    • 質(zhì)量保障

      Quality Assurance

    詳細介紹

       2023年SEC推出全新一代超高分辨率臺式掃描電鏡SNE-Alpha,大大提高操作便利性,提高測試效率!

       賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡特點(diǎn):

       更加人性化的新一代操作軟件,任何人都能輕松操作,無(wú)需專(zhuān)業(yè)測試人員。并提供豐富的擴展功能:顆粒物自動(dòng)分析,3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件。超快的真空抽速,減少等待的煩惱,提高測試效率。小巧而精致的設計,可在狹窄的空間內安裝使用。

       5nmResolution250,000xMagnification:

       同級別最高性能的StageNavigation功能:優(yōu)于5um的高精密navigation移動(dòng),可迅速位移。

       同級別不二標配全自動(dòng)5軸樣品臺:搭載全新的第三代操作軟件

       任何人均可簡(jiǎn)單操作

       強大的自動(dòng)功能

       超快的真空系統

       Vacuum90sec,Venting15sec

       同級別最快的真空系統,豐富的擴展功能

       3D粗糙度分析,超大視野拼圖軟件

       顆粒物粒物自動(dòng)分析(Particleanalysis)

       CompactDesign!更強大的性能!

       與現有型號相比,Dimension減少了40%

       300(W)x465(D)x600(H)

       強化用戶(hù)便利功能

       自動(dòng)獲取Navigation圖像

       關(guān)閉樣品倉的同時(shí)開(kāi)始自動(dòng)抽真空

       賽可SNE-Alpha臺式掃描電鏡HIGH-PERFORMANCEHARDWARE:

       最高放大倍率25萬(wàn)倍,5nmResolution,實(shí)現同級別最高放大倍率及超高分辨率,通過(guò)全新的高精密電子光學(xué)系統,獲取高質(zhì)量圖像。

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       五軸全自動(dòng)樣品臺:

       優(yōu)于5um的高精密全自動(dòng)樣品臺,實(shí)現迅速位移并精準的找到樣品位置。

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        小巧而精致的設計,進(jìn)一步提高空間使用率。

       -與現款相比,Dimension減少40%

       -小巧緊湊,可在狹窄的空間內安裝使用

       -300(W)x465(D)x600(H)

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       NEW第三代Nano-eye

       全新的操作軟件,提高用戶(hù)體驗

       注重人性化的操作界面,操作更加便捷,在短時(shí)間內輕松獲取高質(zhì)量圖像

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       強大的自動(dòng)功能

       優(yōu)越的AutoFocus功能,可快速獲取高質(zhì)量圖像

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       超大視野拼圖功能:

       超大視野給用戶(hù)帶來(lái)更直觀(guān)的觀(guān)測體驗,通過(guò)超大視野拼圖功能,觀(guān)測樣品全貌,得到大范圍的高分辨率圖像

       所需區域后無(wú)需人員操作,軟件開(kāi)始自動(dòng)區域掃描,并將圖像拼成全景圖像,方便觀(guān)測并提高效率。

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       3D粗糙度分析

       通過(guò)四分割BSE探測器,重構3D立體圖像,簡(jiǎn)單快速的分析表面粗糙度

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       EDS(EnergyDispersiveX-raySpectrometer)是一種安裝在SEM(電子顯微鏡)上的分析樣品表面成分的裝置。

       利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上,接收不同元素在電子束作用后所產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)信號進(jìn)行定性和定量分析。

       Features:

       硅漂移探測器(SDD)

       30mm2有效面積

       超輕元素窗口,元素探測范圍B(5)~Cf(98),

       能量分辨率MnKα≤129eV

       帕爾貼制冷,無(wú)需液氮或其他冷卻劑

       簡(jiǎn)便的操作軟件,快速實(shí)現對材料的微區化學(xué)成分分析

       主要功能:定性·定量分析,MappingLineScan,Report等

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       規格:

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