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    首頁(yè)-產(chǎn)品展示-X-Ray檢測設備--X-eye SF160F/N Series賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series

    賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series

    更新時(shí)間:2024-05-23

    產(chǎn)品型號:X-eye SF160F/N Series

    簡(jiǎn)要描述:賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/N Series:用戶(hù)可通過(guò)需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實(shí)現3次元(3D)影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類(lèi),位置及大小。

    • 企業(yè)實(shí)力

      Enterprise Strength
    • 有效保修

      Valid Warranty
    • 質(zhì)量保障

      Quality Assurance

    詳細介紹

        賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/NSeries簡(jiǎn)介:

        1.X-RAYINSPECTIONSYSTEM:

        搭載高性能Micro-focusOpenTube(160kV)的高性能檢測設備,實(shí)現高分辨率、高倍率下分析不良缺陷。此外,用戶(hù)可通過(guò)需求選擇DualCT功能(ObliqueCT,Cone-beamCT)實(shí)現3次元(3D)影像中進(jìn)行正確的分析出不良的種類(lèi),位置及大小。

        2.X-raySimple&Easy3DCT:

        1).半導體,電子產(chǎn)品,封裝等產(chǎn)品精密分析用非破壞性檢測設備(大型PCB可進(jìn)行非破壞性CT分析)

        2).可搭載Option自動(dòng)檢測S/W,通過(guò)手動(dòng)裝料后的自動(dòng)檢測,可實(shí)現產(chǎn)品全檢

        3).最大可實(shí)現550x650mm尺寸的產(chǎn)品不良檢測

        4).通過(guò)DualCT(ObliqueCT,Cone-beamCT)方式的3D檢測,提供高分辨率,高精度的分析檢測環(huán)境

        5).可搭載長(cháng)壽命Filament,利于用戶(hù)使用便利性(可適用于量產(chǎn)檢測)

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        賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/NSeries等,歡迎咨詢(xún)上海賽可,我們?yōu)槟峁┵惪桑⊿EC)X-RAY檢測設備的參數、價(jià)格、型號、原理等信息,賽可(SEC)X-RAY檢測設備SF160F/NSeries產(chǎn)地為韓國、品牌為賽可,歡迎大家咨詢(xún)。


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